我（wǒ）們日常生活中，很多生活物品都經（jīng）過鍍膜機鍍上了一層膜（mó）層（céng），讓產品不僅變得更美觀，也更實用。但是很多（duō）人會有一個疑問，那既（jì）然是鍍了一層膜層，薄膜肯定（dìng）是有厚（hòu）度大小的，那麽（me）薄膜厚度具體多厚呢，以及怎麽去測量（liàng）？

       薄膜必須沉積在基底之上， 所以離開了基片也就無從談薄膜沉（chén）積的問題。基（jī）片（piàn）的清（qīng）洗好壞又（yòu）對薄膜的質最（zuì）有極共重要的（de）影響。同時在薄膜的製作中還必須知道薄膜（mó）的厚度，脫離了薄膜的（de）厚度來談薄膜（mó）性質的測最也是亳無意義的。 所以， 膜厚的測（cè）量和基片的清（qīng）洗可以（yǐ）說是和薄膜製作相關的重要技術。一（yī）般所謂的厚度是指（zhǐ）兩個完全平整的平行平麵之間（jiān）的距離，這個概念是一（yī）個幾何概念。

        理想的薄膜厚度是（shì）指（zhǐ）基片表（biǎo）麵和薄膜表麵之間的距離。在薄膜形貌（mào）的三維度量中（zhōng），相對於薄膜的厚度來講，其（qí）他（tā）兩維的度量（liàng）可以說是無窮大。由於實際（jì）上存在（zài）的表麵是不平整和不連續的，而且薄膜的內部還可能存在著氣孔、雜質、晶格缺陷和表麵吸附分子等等，所有要嚴格地定義和精（jīng）確（què）地（dì）測量薄膜的厚度實際（jì）上是（shì）很困（kùn）難的。

        膜厚的定義位（wèi）當根據測址的方法和（hé）測址的目的決（jué）定。 因此（cǐ），同一個薄膜（mó），使用不同的測量方（fāng）法會得到不同的結果， 即不同的厚（hòu）度。

        在薄膜油（yóu）測量中的表（biǎo）麵並不是一（yī）個幾何的概念，而是一個 物埋概念，是（shì）指表麵（miàn）分子（原子）的集合（hé）。 平均表麵是指表麵原子所有的點到這個麵的距離（lí）代數和（hé）等於零， 平均表麵是（shì）一個兒何概（gài）念（niàn）。

        我們通常將基片的（de）一側的（de）表麵（miàn）分（fèn）子的集合的平均表麵稱為基片表麵；薄膜上不和基片接（jiē）觸的那一側的表麵的平均表麵稱為薄膜的形狀（zhuàng）表麵，將所測量的薄膜原子重新排列（liè），使其密（mì）度（dù）和大塊（kuài）狀固體材料完全一樣且均勻的分布在基片（piàn）表麵上，這時平均表麵稱（chēng）為薄膜質量等價表麵；根據所（suǒ）測量薄膜的物理性質等效為一種長度和寬（kuān）度與所測量的薄膜一樣的大塊固體材料的薄膜，這時的平均表麵稱為薄膜物性等價表麵。 形狀膜（mó）厚是（shì）比較接近於直觀形式（shì）的膜厚， 通常（cháng）以µm為單（dān）位； 質量膜厚反（fǎn）映了薄膜（mó）中（zhōng）包含物質為多少，通常 以 µg/cm#8217;為單位， 物性膜厚在實際使用上較有用， 而且比較容易測量。

         由於實際（jì）表麵並不平整，同時薄膜製作過程中又不可避免地要有各種缺（quē）陷、 雜質和吸（xī）附分子等存在，所以（yǐ）不管用哪 一種方法（fǎ）來定（dìng）義和測量膜厚，都是一個平均值（zhí），而且足包括了雜質、缺陷以及吸附（fù）分子在（zài）內的薄膜的厚度值。

        真空鍍膜機鍍膜是在真空腔體下進行鍍膜的，對於測量膜厚度來說，是需要這方麵專業的測量儀才能測出厚度大小。

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