最直接的鍍膜控（kòng）製方法是石英晶（jīng）體微量平衡法(QCM)，這種儀器可以直接驅動蒸發源，通過PID控（kòng）製循環驅動擋板，保持蒸發（fā）速率。隻要將儀器與係統控製軟件相連接（jiē），它就可以控（kòng）製整個（gè）的鍍膜（mó）過程。但（dàn）是(QCM)的精確度是有限的，部（bù）分原因（yīn）是由於它監控（kòng）的是被鍍（dù）膜的質（zhì）量（liàng）而（ér）不是其（qí）光學厚度（dù）。
    此外雖然QCM在較低溫度下非常穩定，但溫度較高時，它會變得對溫度（dù）非常敏感。在長時間的加熱過程中，很難阻止（zhǐ）傳感器（qì）跌入這個敏感區域，從（cóng）而對膜（mó）層造成重大誤差。
    光學監控是（shì）高精密鍍膜的的首選（xuǎn）監控方式，這是因為它可以更精確地控製（zhì）膜層厚度(如果運用得當)。精確度的改進（jìn）源於很多因素,但（dàn）最根本的原因是對光學（xué）厚度的監控。
    OPTIMAL SWA-I-05單波長光學（xué）監控係統，是采用間接測控，結（jié）合汪博士開發（fā）的先進光學監控（kòng）軟件，有效提高光學反應對膜（mó）厚度變化靈敏度的理論和方法來減少終極誤差，提供了反饋或傳輸的選擇模式和大範（fàn）圍的監測波長。特（tè）別適合於各種膜厚的鍍膜監控包括非規整膜監控（kòng）。

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